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X射线镀层测厚仪

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X射线镀层测厚仪 
使用X荧光射线可以非接触非破坏快速分析膜厚
* 兼容Microsoft Windows操作系统之软件
* 可测单层, 多层 1-6层, 合金厚度及比例
* 药水分析功能.
* 拥有多种 Filter 选择性
* 定点自动定位分析
* 光径对准全自动化
* 自动显示量测参数
* 2D/3D, 任意位置量测控制
* 雷射对焦与自动定位系统
* 温控稳定延长校准时效
* 20X 倍放大摄影系统.
* X-ray运作待命睡眠控制                                       
* 全进口美日系零件价格优势以及快速服务时效
* 彩色区别量测数据,多重统计显示窗口与报告编辑应用

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